半导体和电子行业解决方案系列网络研讨会
编辑： 发布时间：2021-10-18 浏览：2116
首日将由行业专家分享半导体器件失效分析及表征方面的经验，以及先进封装技术的行业趋势和解决方案，并在当天现场演示在蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM上搭载Kleindiek纳米探针的解决方案和能力。
会议第二天将聚焦于蔡司及其合作伙伴针对先进封装行业的解决方案，并展示如何利用行业领先的X射线显微镜平台进行无损成像，以及如何通过先进的机器学习来提高图像质量和通量。最后还将在线实时演示蔡司激光双束技术（LaserFIB）在电子封装失效分析和开发中的应用。
